该研究提出了一种基于采集几何约束的X射线荧光(XRF)图谱整体定位方法,用于在光学显微镜图像中定位XRF视野。传统方法通常独立放置每个XRF图块,忽略了采集元数据中已记录的相对扫描位置。研究者将问题形式化为“整组定位”,即为整组图块估计单一光学框架位置,并以GroupIoU作为量化指标。对照实验显示,独立定位的GroupIoU仅为0.000,而整体定位达到0.931;将归一化互相关替换为互信息后结果几乎一致,表明该方法不依赖特定相似性度量。在另一多尺度案例中,利用粗分辨率XRF扫描图连接细尺度图块组与光学图像,使平均GroupIoU从0.694提升至0.856。研究结论支持在定位相关XRF图块时,将采集几何作为显式约束加以利用。
| X-ray fluorescence (XRF) microscopy | X射线荧光显微镜,一种利用X射线激发样品产生荧光来绘制元素分布图的成像技术。 |
| field of view (FOV) | 视场,指成像设备在单次采集中所覆盖的空间区域。 |
| group intersection-over-union (GroupIoU) | 组交并比,一种用于评估整个图块组定位精度的指标,计算预测组与真实组重叠区域与并集区域的比值。 |
| normalized cross-correlation (NCC) | 归一化互相关,一种用于衡量两幅图像相似度的度量,通过计算像素值相关性并归一化来匹配图像。 |
| mutual information (MI) | 互信息,一种基于信息论的图像相似性度量,衡量两幅图像之间统计依赖程度,常用于多模态图像配准。 |
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